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Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices
Sprache
Englisch
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Buch
Hardcover
Terrestrial neutron-induced soft errors of semiconductor memory devices are currently a major concer...
Vollständige Beschreibung
Libristo-Code: 05068958
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Terrestrial neutron-induced soft errors of semiconductor memory devices are currently a major concern in reliability issues. Understanding the mechanism and quantifying soft-error rates are primarily crucial for the design and quality assurance of semiconductor memory devices. This book covers the relevant up-to-date topics in terrestrial neutron-induced soft errors, and aims to provide succinct knowledge on neutron-induced soft errors to the readers by presenting several valuable and unique features.
Informationen zum Buch
Vollständiger Name
Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices
Autor
Takashi Nakamura, Mamoru Baba, Eishi Ibe
Sprache
Englisch
Englisch
Einband
Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung
2008
Anzahl der Seiten
368
EAN
9789812778819
ISBN
9812778810
Libristo-Code
05068958
Gewicht
654
Abmessungen
162 x 237 x 20
