Kontakt
Wie einkaufen
Versand
Kaufberater
Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications
Englisch
714 b
30 Tage für die Rückgabe der Ware
Kunden kauften auch
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.
Informationen zum Buch
Englisch
Verschenken Sie dieses Buch noch heute
Es ist ganz einfach
1 Legen Sie das Buch in Ihren Warenkorb und wählen Sie den Versand als Geschenk 2 Wir schicken Ihnen umgehend einen Gutschein 3 Das Buch wird an die Adresse des beschenkten Empfängers geliefertDas könnte Sie auch interessieren
/
Broschur
39.04
€
/
Broschur
98.26
€
