[email protected]
Wir antworten innerhalb von 24 Stunden
Kontakt
Wie einkaufen
Hilfe
Versand
Österreichische Post 5.99 €
DPD-Kurier 6.49 €
GLS-Kurier 4.49 €
Kaufberater
Wir sind für Sie da!
[email protected]
Mein Konto
Werden Sie Teil einer Gemeinschaft von Buchliebhabern aus der ganzen Welt und erhalten Sie eine Reihe von Vorteilen.
Konto kostenlos anlegen
▸
Leer :-(
0
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Sprache
Englisch
Englisch
Buch
Broschur
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technolo...
Vollständige Beschreibung
Libristo-Code: 20095107
?
317 b
317 b
126.51
€
inkl. MwSt.
Externes Lager in kleiner Menge
Wir versenden in 13-16 Tagen
30 Tage für die Rückgabe der Ware
Das könnte Sie auch interessieren
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.
Informationen zum Buch
Vollständiger Name
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Autor
Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay
Sprache
Englisch
Englisch
Einband
Buch - Broschur
Datum der Veröffentlichung
2018
Anzahl der Seiten
197
EAN
9789811093210
Libristo-Code
20095107
Verlag
Springer Verlag, Singapore
Gewicht
3401
Abmessungen
155 x 235 x 13
