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High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Sprache
Englisch
Englisch
Buch
Hardcover
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale technology an...
Vollständige Beschreibung
Libristo-Code: 02976144
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317 b
317 b
126.51
€
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This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate error effects, which aids the development of high-level fault-tolerant techniques. In total, the book presents 6 solutions for reliability estimation (3 for fault injection and 3 for analytical estimation) and 5 techniques for reliability exploration (3 for architectural level and 2 for system-level). It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.§§
Informationen zum Buch
Vollständiger Name
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Autor
Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay
Sprache
Englisch
Englisch
Einband
Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung
2017
Anzahl der Seiten
197
EAN
9789811010729
ISBN
9811010722
Libristo-Code
02976144
Verlag
Springer Verlag, Singapore
Gewicht
4557
Abmessungen
155 x 235 x 18
Kategorie
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse
>
Elektronik, Nachrichtentechnik
>
Elektronik
>
Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
