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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics David G. Seiler
Libristo-Code: 01391053
Verlag Springer, Berlin, November 2006
This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers... Vollständige Beschreibung
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This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry s characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.

Informationen zum Buch

Vollständiger Name Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Autor David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 2007
Anzahl der Seiten 578
EAN 9780735404410
Libristo-Code 01391053
Verlag Springer, Berlin
Gewicht 1586
Abmessungen 216 x 279 x 41

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Mess- und Automatisierungstechnik
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